Nanoskopie im mittleren Infrarot

Die klassische FTIR-Mikroskopie und die daraus abgeleiteten Techniken der bildgebenden Analyse (FTIR-imaging) arbeiten im Fernfeld. Deshalb ist ihre räumliche Auflösung beugungslimitiert. Strukturen unterhalb der Wellenlänge des eingesetzten Lichts können sie also nicht auflösen, im mittleren Infrarot beschränkt sich die erzielbare räumliche Auflösung auf wenige Mikrometer.

Eine Möglichkeit dieses Beugungslimit zu umgehen, sind Nahfeldtechniken. Im sichtbaren Wellenlängenbereich funktioniert dies schon länger, etwa mit faserbasierter, nahfeldoptischer Rastermikroskopietechnik (SNOM). Eine analoge Geräteentwicklung im mittleren Infrarot ist jedoch aufgrund technischer und physikalischer Beschränkungen bis heute nicht durchführbar.

Ansätze für höhere Ortsauflösung

In den letzten Jahren wurden zwei alternative, von ihrem Ansatz her jedoch grundverschiedene Nahfeldtechniken entwickelt, mit denen heute Infrarotnanoskopie mit einer Ortsauflösung in der Größenordnung von 20 bis 50 nm machbar ist. Es handelt sich hierbei zum einen um die von Dazzi et al. erstmals gezeigte photothermische Infrarotnanoskopie (PTIR oder AFMIR)¹ und zum anderen um die vo

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