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Die obersten Schichten genau im Blick

Nachrichten aus der Chemie, Mai 2010, S. 570-572, DOI, PDF. Login für Volltextzugriff.

Von Wiley-VCH zur Verfügung gestellt

Neben den Elektronen-Spektroskopie-Verfahren ist die Sekundärionenmassenspektroskopie (SIMS) das einzige massenspektroskopische Verfahren, um die chemische Zusammensetzung von Oberflächen zu untersuchen. Die SIMS zählt allerdings zu den zerstörenden Techniken und die Analysen dauern oft mehrere Stunden, da bei SIMS für jede Probe von neuem Hochvakuum erzeugt werden muss. Eine neue Alternative ist die RF-GD-TOF-Massenspektrometrie (radiofrequency glow discharge time of flight mass spectrometry = Radiofrequenzglimmlampe mit Flugzeitmassenspektrometrie). Sie dauert durchschnittlich nur etwa fünf Minuten, liefert wesentlich mehr Informationen und eignet sich für leitende und nichtleitende Materialien.

SIMS: Vorteile und Nachteile

Mit der SIMS lassen sich Beschichtungen und auf Oberflächen adsorbierte Verbindungen analysieren. Das Verfahren eignet sich auch für thermisch labile Substanzen und wird daher auch in der Bioanalytik eingesetzt.

In einer hoch evakuierten Probenkammer (etwa 10—7 mbar) bestrahlt man die Probe mit hochenergetischen Ionen (3 keV Argon-Ionen fürs Sputtern, 25 keV Bismut-Ionen für die Analyse). Der Ionenstrahl löst aus der Probe Teilchen

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